Laboratorium

Wysokorozdzielczy elektronowy mikroskop skaningowy JEOL JSM-7500F z przystawką do analizy składu chemicznego w mikroobszarach EDS-INCA PentaFETx3.

Ponadto mikroskop posiada następujące detektory:
- Detektor elektronów wtórnych SE (ang. Secondary Electrons) służący do obrazowania morfologii powierzchni materiałów
- Detektor elektronów wstecznie rozproszonych (odbitych) BSE (ang. Backscattered Electrons) służący do obrazowania z kontrastem składu chemicznego
- Detektor elektronów przechodzących TED (ang. Transmission Electron Detector) służący do obserwacji „cienkich” próbek w trybie transmisyjnym

Ww. wyposażenie umożliwia szybką i dokładną analizę badanych próbek.

Napylarka K575X

Służy do napylania próbek nieprzewodzących. Istnieje możliwość pokrycia badanych powierzchni cienką warstwą węgla, metali (Cr, Au) lub ich stopów (Pt/Pd 80/20%).