Spektroskopowy Elipsometr obrazujący EP4- Nanofilm - zasady dostępu
Instrument: Spektroskopowy Elipsometr obrazujący EP4- Nanofilm
Lokalizacja: laboratorium 132
Do pomiarów grubości i właściwości optycznych cienkich filmów. Wyposażony w termostatowaną komorę cieczową z możliwością sprzężenia z mikrowagą kwarcową oraz komorę do pomiarów SPR. Zakres spektralny: 350 – 900 nm
Osoba kontaktowa:
Dr. Lilianna Szyk-Warszyńska
tel. 12 6395 129
Aparatura dostępna pod nadzorem personelu laboratorium. Zgodnie z grafikiem.