Spektroskopowy Elipsometr obrazujący EP4- Nanofilm - zasady dostępu

Instrument: Spektroskopowy Elipsometr obrazujący  EP4- Nanofilm   

 

Lokalizacja: laboratorium 132

Do pomiarów grubości i właściwości optycznych cienkich filmów. Wyposażony w termostatowaną komorę cieczową z możliwością sprzężenia z mikrowagą kwarcową oraz komorę do pomiarów SPR. Zakres spektralny: 350 – 900 nm

 

Osoba kontaktowa:

Dr. Lilianna Szyk-Warszyńska
tel. 12 6395 129
Aparatura dostępna pod nadzorem personelu laboratorium. Zgodnie z grafikiem.