Na skróty

Przypomnienie hasła

Spektroskopowy Elipsometr obrazujący nanofilm EP4

Instrument: Spektroskopowy Elipsometr obrazujący  nanofilm EP4 

Lokalizacja: laboratorium 132

Informacje ogólne:

Zasada działania spektroskopowego elipsometru obrazującego EP4 oparta jest o podstawowe założenia klasycznej elipsometrii oraz elipsometrycznego obrazowania kontrastowego. Promień lasera po przejściu przez liniowy polaryzator ulega polaryzacji eliptycznej. Tak spolaryzowane światło następnie odbija się od badanej próbki w kierunku analizatora i obrazowane jest za pomocą kamery CCD poprzez długodystansowy obiektyw. W ten sposób możliwa jest charakterystyka powierzchni próbki 1000 razy mniejsza niż w większości nieobrazujących elipsometrów z rozdzielczością boczną 1 mikrona.

Za pomocą elipsometru EP4 można wyznaczać takie parametry badanych próbek jak grubość, współczynnik odbicia i absorpcję. Struktura badanych próbek może być wizualizowana na poziomie mikroskopowym, mogą być tworzone mapy 3D profili powierzchni wybranych wycinków próbek.

Elipsometr EP4 może także współpracować z mikrowagą kwarcową QCM-D.

Podstawowe cechy:

  • bezpośrednia wizualizacja obrazu próbki z elipsometrycznym kontrastem, z rozdzielczością lateralną na poziomie 1 mikrona
  • obrazowanie elipsometryczne w zakresie spektralnym od 350 nm do 900 nm
  • celki: elektrochemiczna, SPR, ciało stałe/ciecz, ciecz/ciecz razem z akcesoriami,
  • kontroler temperatury
  • obrazy z kontrastu elipsometrycznego w czasie rzeczywistym dostarczają szybki pogląd na powierzchnię, defekty i strukturę analizowanej próbki
  • równoczesne pomiary wielu obszarów badanej próbki
  • Knife Edge illumination- funkcja pozwalająca na pomiary na cienkich płytkach przezroczystych, dzięki odcięciu światła odbitego od tła.

Osoba kontaktowa: dr Lilianna Szyk-Warszyńska tel. +48 12 6395 129

Zasady dostępu: Aparatura dostępna pod nadzorem personelu laboratorium. Zgodnie z grafikiem.